Integracja ATE
 

Dla zwiększenia pokrycia testami zmontowanych elektronicznych płyt drukowanych, narzędzia boundary-scan firmy JTAG mogą współpracować systemami ATE (Automatic Test Equipment) automatycznego testowania. JTAG Technology współpracuje w tym zakresie z renomowanymi producentami testerów ICT (In-Circuit Testers), FPT (Flying Probes Testers) lub FT (Functional Testers).

Integracja jest prosta i bezproblemowa. Wymaga jedynie adaptacji oprogramowania do specyfiki danego systemu ATE. Często JTAG Technologies sam projektuje dedykowane do potrzeb klienta kontrolery i oprogramowanie mając na uwadze mechaniczną i elektryczną integralność całego systemu. Przy tym integracja może być zrealizowana na dwóch podstawowych poziomach:

  • Bazowym - polegającym na włączeniu wybranych modułów diagnostycznych B-S i wizualizacji wyników w ramach jednego wspólnego graficznego interfejsu użytkownika GUI
  • Pełnym – polegającym na wzajemnym przenikaniu rozwiazań ATE oraz B-S tzn. wystawianiu odpowiednich sygnałów korzystając z infrastruktury B-S oraz pomiarze parametrów elektrycznych w infrastrukturze testerów ICT, FPT, FT.

JTAG Technology oferuje rozwiazania dla systemów:

  • Aeroflex
  • Keysight (Agilent)
  • Digital Test
  • Huntron
  • Seica
  • SPEA
  • Takaya
  • Teredyne
  • i inne

Prosimy o kontakt w celu uzyskania więcej informacji lub ofert.