Moduły DIOS i STM
 

JT 2111/MPV


JT 2111/MPV jest 64-kanałowym modułem we/wy cyfrowych tzw. modułem DIOS (Digital I/O Scan) zamkniętym w odpornej na udary mechaniczne obudowie. Moduł jest zaprojektowany do testowania metodą B-S sygnałów cyfrowych na złączach pakietu i sygnałów wydzielonych bloków funkcjonalnych tzw. cluster’ów. Jest dostępny w dwóch wariantach ze złączem 96-pin DIN 41612 lub z czterema złączami IDC 20-pin 0.1". 64 kanały są pogrupowane po 16 tak, że każda grupa może być programowo pominięta w łańcuchu B-S aby ewentualnie zapewnić szybsze programowanie układów flash w urządzeniu. Przy czym kilka modułów można połączyć szeregowo dla zwiększenia ilości linii we/wy. Urządzenie może pracować jako niezależne lub być zintegrowane w ramach np. testera ostrzowego.

JT 2111/MPV jest zasilany z zewnętrznego adaptera AC/DC. Napięcie zasilania jest wybierane sprzętowo lub programowo spośród 1.5V, 1.8V, 2.5V i 3.3V. Jeśli wybrane jest napięcie 3.3V, wejścia mają tolerancję 5V.

Specyfikacja JT 2111/MPV:

  • 64 kanały cyfrowych we/wy pogrupowane po 16
  • Konfigurowany za pomocą funkcji SCIL
  • Poziom napięć 3.3V (tolerancja 5V), 2.5V, 1.8V, 1.5V ustawiany rotacyjnym przełącznikiem lub programowo
  • Opcje złącz 96-pin DIN lub 20 pin IDC
  • Zasilanie 200mA dla zewnętrznych akcesoriów
  • Zegar TCK do 25 MHz
  • Sygnały TAP-IN, TAP-OUT umożliwiają łączenie w łańcuch B-S z innymi modułami DIOS lub testowanymi pakietami
 

JT 2122/MPV


JT 2122/MPV DIOS (Digital I/O Scan) jest modułem 128 cyfrowych dwukierunkowych we/wy. Umożliwia dostęp do złącz pakietu i punktów pomiarowych. Zwiększa tym samym pokrycie testami pozwalając testować całe bloki funkcjonalne na pakiecie tzw. clustery.

Porty TAP są dostępne za pośrednictwem 168-stykowego złącza krawędziowego DIMM lub złącza 10-pin. Wyjścia portu TAP pozwalają łączyć w łańcuch kolejne moduły DIOS lub obsługiwać łańcuch pomiarowy B-S na testowanym pakiecie.

JT 2122/MPV w połączeniu z bazowym modułem JT2702 pozwala budować tanie wielokanałowe bloki we/wy cyfrowych w ramach testerów ostrzowych.

Specyfikacja JT 2122/MPV:

  • 128 linii we/wy – pogrupowanych w 8 bloków po 16 kanałów z możliwością obejścia bloku
  • Zegar TCK do 45 MHz
  • Zasilanie 1.8V - 5.0V; napięcie progowe zależne od zasilania; wejścia z tolerancją 5V
  • Kompatybilny z płytą bazową JT 2702/DDC
  • Niski koszt
  • Małe rozmiary predysponują do montażu wewnątrz testerów ostrzowych.
 

JT 2124/F168


JT 2124/F168 DIOS (Digital I/O Scan) jest konfigurowalnym modułem 128 we/wy cyfrowych wykonanym w formie standardowego pakietu DIMM 168-pin. Pozwala testować całe bloki funkcjonalne na pakiecie tzw. clustery. W porównaniu do podobnego JT 2122/MPV ma szereg udogodnień jak na przykład możliwość programowania napięć progowych w blokach po 16 kanałów i podłączania sygnałów bez konieczności wyłączania zasilania.

JT 2124 w połączeniu z bazowym modułem JT2702 pozwala budować tanie wielokanałowe bloki we/wy cyfrowych w ramach testerów ostrzowych, gdy potrzeba różnych napięć logicznych. Przykładowo system testujący zawierający zasilacz, kontroler B-S, moduły DIOS, przekaźniki itp. może być zintegrowany z łożem ostrzowym jako wymienny moduł dedykowany do danego typu testowanego pakietu.

Specyfikacja JT 2124/F168:

  • 128 niezależnych kanałów we/wy pogrupowanych w 8-iu blokach po 16 kanałów
  • Zegar TCK do 40 MHz
  • Zasilanie 0.9-5.5V
  • Elastyczne programowanie napięć progowych stanu niskiego w zakresie 0.0-4.1V
  • Elastyczne programowanie napięć progowych stanu wysokiego w zakresie 1.5-3.6V w blokach po 16 kanałów,
  • Kompatybilny z płytą bazową JT 2702/DDC
  • Zwiększenie pokrycia testami i dokładności testowania
 

JT 2128 DIOS


JT 2128 DIOS (Digital I/O Scan) moduł cyfrowych we/wy zwiększa pokrycie testami. Zapewnia równoległy dostęp do maksimum 133 kanałów we/wy pogrupowanych w 3 segmentach, z których każdy może być ominięty.

JT 2128 DIOS został zaprojektowany jako moduł dopasowany do standardowego złącza DIMM 168-pin i jest kompatybilny z modułem bazowym JT 2702/DDC. Pozwala budować tanie wielokanałowe bloki we/wy cyfrowych w ramach testerów ostrzowych.

Specyfikacja JT 2128 DIOS:

  • Pakiet w standardzie DIMM 168-pin
  • 128 kanałów cyfrowych DIO
  • Programowalna funkcjonalność via Altera FPGA
  • Samoadaptacja napięć we/wy w zakresie 1.8-3.3V
  • Zegar TCK do 30 MHz
 

JT 2127 STM/xxx


JT 2127 STM (Socket Test Modules) to moduły zaprojektowane dla produkcyjnego testowania złącz DIMM. Umieszczone w złączach badanego pakietu testują aktywne sygnały cyfrowe i napięcia analogowe na pinach zasilających (Vdd, Vddq, Vref i Vddspd) dzięki zintegrowanym kanałom ADC. Tym samym zapewniają pełny test strukturalny złącza.

Specyfikacja JT 2127 STM:

  • Testowanie złącz DIMM i SODIMM
  • Pomiar napięć zasilających na złączach
  • Zastosowanie technologii DIOS, 128 kanałów we/wy cyfrowych
  • Szeroki zakres modeli dla różnych typów złącz
  • Samoadaptacja napięć wyjściowych i progowych w zakresie 1.5V i 3.3V.
  • Programowalna funkcjonalność via Altera FPGA
  • Zegar TCK do 30 MHz
 

JT 2702/PCI


JT 2702/PCI-Slot umożliwia produkcyjne testowanie standardowych pakietów PCI 32/64-bit metodą boundary-scan. Zapewnia 2 złącza kompatybilne z PCI 32/64 bit do testowania pakietów i 2 złącza DIMM do podłączenia modułów JT 2122/MPV DIOS wykorzystywanych do testowania sygnałów na złączach.

Podczas testowania magistrali PCI 32-bit, dostepnych jest 19 kanałów we/wy, które mogą być użyte do badania innych złącz lub punktów pomiarowych. Podczas testowania magistrali PCI 64-bit dostępne są 83 kanały.

Specyfikacja JT 2702/PCI:

  • Testowanie B-S pakietów PCI 32/64-bit, 2 sloty PCI
  • Kompatybilny z magistralą PCI 3.3V i 5V
  • Sprawdza wszystkie połączenia łącznie z zasilaniem i masą
  • 19/83 kanały we/wy zwiększające pokrycie testami
  • Monitorowanie poboru mocy
  • Zastosowanie technologii DIOS
  • 2 sloty DIMM dla podłączenia modułów DIOS np. JT 122/MPV
  • 2 niezależne wejścia zasilania
  • Wymiary 200 x 200 x 40 mm
  • Waga 475 g
 

JT 2702/DDC


JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) jest płytą bazową dla modułów DIOS wykonanych w formie pakietów DIMM. Typowo jest wykorzystywany w testerach ostrzowych do budowy, dedykowanych do danego testowanego pakietu, modułów adaptacyjnych o dużej ilości linii we/wy.

JT2702/DDC w połączeniu z jednym lub dwoma modułami DIOS (JT 2122/MPV lub JT 2124/F168) wykonanych w postaci standardowego pakietu DIMM 168 pin pozwala zbudować 128 lub 256 kanałowy system we/wy. Wykorzystując możliwość szeregowego połączenia płyt bazowych w łańcuch można zwiększyć ilość kanałów do 1000. Sygnały we/wy są przy tym wyprowadzone na złącza IDC 40-pin 0,1”. Zwiększa tym samym pokrycie testowe w obszarze złącz i wyznaczonych punktów pomiarowych na pakiecie.

Specyfikacja JT 2702/DDC:

  • Do 256 kanałów we/wy na pojedynczej płycie bazowej
  • Możliwość szeregowego połączenia w łańcuch dla uzyskania większej ilości kanałów
  • Zegar TCK do 25 MHz
  • Autodetekcja zainstalowanych modułów DIMM DIOS
  • Autodetekcja dodatkowych płyt bazowych JT 2702/DDCs w łańcuchu
  • Wsparcie programowe w ProVision
  • 2 złącza DIMM-168 dla modułów DIMM DIOS
  • 8 złącz IDC 40-pin każde obsługujace 32 linie we/wy i 8 uziemień
  • Standardowe złącza IDC 10-pin dla portów TAP-IN i TAP-OUT
  • Wymiary 200 x 90 x 30 mm
  • Waga 175 g
 

JT2127/Flex STM


JT 2127 - Flex jest specjalnie zaprojektowanym adapterem do testowania zamontowanych na pakiecie złącz DIMM i SODIMM. Testowanie pamięci w technologii B-S jest zawsze kłopotliwe. Nawet jak jest możliwe wygenerowanie z poziomu łańcucha B-S cyklów zapisu/odczytu, to ilość uzyskanej informacji diagnostycznej może być nie wystarczająca do stwierdzenia czy uszkodzenie jest na płytce pamięci czy na złączu. Używając JT 2127-Flex uzyskuje się bezpośredni dostęp do wyprowadzeń złącza i można stwierdzić czy złącze jest przylutowane prawidłowo.