JT 5112 MIOS (Mixed-signal IO Scan) rozszerza możliwości testowania techniką B-S o pomiary sygnałów cyfrowych, analogowych oraz częstotliwości. Pozwala na pomiar wielkości analogowych w zakresie do 30V w maksymalnie 8-iu kanałach, sygnałów cyfrowych w maksymalnie 64 kanałach i częstotliwościowych w 16-u kanałach. Rekonfigurowalne (przez CoreCommander) jądro FPGA pozwala realizować specjalizowane funkcje użytkownika jak dostęp do szybkich pamięci, programowanie pamięci flash, interfejsy I2C lub CAN.
JT 5112 jest dostępne w dwóch wersjach – w trwałej obudowie lub pakietu (/FXT) dedykowanego do testerów ostrzowych. JT 5112 współpracuje z serią kontrolerów JT 37xx. Sygnały we/we są wyprowadzone na standardowe złącza 0.1" IDC na płycie czołowej. Port TAP i złącze zasilania jest na tyle obudowy.
Specyfikacja JT 5112:
- 64 kanałowy system we/wy analogowo/cyfrowych (56 – zawsze cyfrowych, 8 analogowych lub cyfrowych)
- Zakres sygnałów cyfrowych 1.05V - 3.6V
- Zakres sygnałów analogowych 0.00V-30.00V lub -15.00V-15.00V z dokładnością ± (0.7% + 24mV)
- 16 kanałów pomiaru częstotliwości - zakres 0 - 200 MHz
- 1 kanał pomiaru szerokości impulsu - zakres 4 - 8192 ns
- Generator częstotliwości - zakres 0 - 62.5 MHz
- Obsługa wysokich częstotliwości zegara TCK
- Rekonfigurowalne FPGA realizujące funkcje użytkownika
- Zbiór programowych funkcji SCIL
- Interfejs IEEE 1149.1
- Dwa warianty:
- JT 5112 - model standardowy w obudowie:
- Złącza kanałów MIOS - 4 x 20-pin IDC 0.1"
- Złącza portów TAP - 2 x 10-pin IDC format 0.1"
- Zewnętrzny zasilacz
- JT 5112/FXT – model do wbudowania w testery ostrzowe:
- Płytka 74mm x 59mm
- Złacza kanałów MIOS I portów TAP 2 x 68-pin ERNI SMCQ 68 M 244839
- JT 5112 - model standardowy w obudowie:
SCIL Modules to zestaw zaprogramowanych specjalizowanych pod’ów, które znajdują zastosowanie wszędzie tam gdzie wymagane są specjalne testy dostosowane do potrzeb klienta lub wymagane jest programowanie układów w systemie docelowym. Moduły te typowo podłączane są w miejsce standardowych portów TAP w systemie DataBlaster's QuadPod. Obecnie spośród modułów zwiększających pokrycie testami dostępne są układy we/wy, zegar/licznik i generatory funkcyjne. Dostępne są też moduły umożliwiające programowanie ISP. Są one używane w połaczeniu z programowymi modułami SCIP (Serially Controlled IC Programming). Inne moduły SCIL mogą być zaprojektowane na życzenie klienta.
SCIL Modules bazują na JT 2149/MPV 32 kanałowym module we/wy cyfrowych. Alternatywnie moduły SCIL mogą być budowane w oparciu o JT 2111/MPV (desktop DIOS) lub JT 2122/MPV (DIMM DIOS).
Następujące standardowe moduły SCIL są dostępne - JT 2149/MPV-0xx:
- 001 - 32 kanały we/wy cyfrowych
- 006 – niskonapieciowy interfejs portów TAP dla procesorów Intel (Atom, ...)
- 011 – adapter programujący dla mikrokontrolerów Renesas
- 015 - adapter programujący dla HC08
- 016 - adapter programujący dla HCS08/HCS12
- 017 - adapter programujący dla HC08/HCS08/HCS12
- 018 - adapter programujący (BDM) dla MPC500
- 019 - adapter programujący ARM SWD
- 067 – generator funkcyjny
- 071 - generator funkcyjny/komparator
- 037 – protokół komunikacyjny - Dallas 1 wire
- 034 - protokół komunikacyjny - Microchip
- 035 - protokół komunikacyjny - SPI
BSDL Verifier jest systemem generacji/weryfikacji plików BSDL (Boundary-Scan Description Language) opisujących układy kompatybilne ze standardem IEEE 1149.1 i wykorzystywanych w procesie testowania B-S. Używając wzorcowego układu automatycznie weryfikuje istniejący opis lub tworzy taki plik jeśli opis jeszcze nie istnieje. Plik BSDL charakteryzuje układ pod kątem wbudowanych mechanizmów B-S jak długość rejestrów, kody ID, kody instrukcji, ….
BSDL Verifier jest przeznaczony dla producentów układów do testowania wbudowanej w układ infrastruktury B-S. Może też być wykorzystywany jako prosty, tani tester sprawdzający oryginalne pochodzenie układów.
BSDL Verifier:
- Tworzy i weryfikuje modele BSDL z wzorcowym układem
- Łatwy w obsłudze sprzęt i oprogramowanie
- Obsługuje do 512 linii sygnałowych wejściowych, wyjściowych, dwu- lub trzy- stanowych
- Obsługuje różne obudowy: PGA, BGA, QFP, TSOP, …
- Automatyczne generowanie listy połączeń
- Zegar TCK (do 40 MHz)
- Programowalne napięcia progowe od 0 V do 4.1 V z krokiem 0.1 V
- Programowalne napiecia wyjsciowe od 1.5 V do 3.6 V z krokiem 0.1 V
- Zawiera zasilacz 5 V
- Zawiera B-S kontroler JT 3707
- Szeroki zakres raportowania
TAPCommunicator umożliwia zdalne wykonywanie testów B-S i diagnostykę na odległość bez względu na dzielący kontroler B-S od testowanego układu dystans i ewentualne trudności środowiskowe. System oparty jest na Ethernecie 1 Gigabit (IEEE Std 802.3z). Technologia TapSpacer, na której bazuje komunikator, dopuszcza implementację innych komunikacyjnych interfejsów na życzenie klienta.
Standardowy system składa się z modułu komunikacyjnego (JT 2143) ulokowanego przy kontrolerze i jednego lub więcej modułów (JT 2144) umiejscowionych przy testowanych urządzeniach docelowych. Daje to pełną funkcjonalność standardu B-S IEEE 1149.x na dużych dystansach bez degradacji jakości sygnałów. Rozszerza zakres stosowania tej techniki testowania na szeroko rozumiane systemy zdalne jak:
- Testowanie w realnym środowisku gdy fizyczny dostęp do testowanego urzadzenia jest ograniczony lub wręcz niemożliwy
- Fabryki mające wiele linii produkcyjnych rozrzuconych po świecie a współdzielenie kontrolera i oprogramowania B-S jest możliwe
- Testowanie u producentów kontraktowych wykonujących urządzenia na zlecenie różnych klientów, z różnymi systemami B-S