Introduction to Boundary-Scan, 19 wrzesień 10:30 (CEST)

Ogólna prezentacja metody ścieżki krawędziowej (Boundary-Scan) testowania zmontowanych pakietów elektronicznych i programowania układów w systemie docelowym. Język prezentacji angielski.

Design for Test, 20 wrzesień 10:30 (CEST)

Omówienie zagadnienia projektowania urządzeń elektronicznych pod kątem możliwości ich automatycznego testowania metodą Boundary-Scan. Język prezentacji angielski.

JFT in-depth, 21 wrzesień 10:30 (CEST)

Prezentacja oprogramowania JTAG Functional Test umożliwiającego automatyczne funkcjonalne testowanie bloków nie wyposażonych w mechanizm B-S na zasadzie opisanych w języku Phyton wymuszeń i obserwacji odpowiedzi układu. Język prezentacji angielski.